外殼防護(hù)等級(jí)試具A-B-C-D的作用

   符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗(yàn)的防護(hù)檢驗(yàn)。

外殼等級(jí)試具A技術(shù)參數(shù)：

1、探球直徑：50mm

2、擋板直徑：45mm

3、擋板厚度：4mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長(zhǎng)度：100mm

6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（第1位特征數(shù)字1）

●可訂制帶50±5N推力。

試具B技術(shù)參數(shù)：

1、彎指直徑：12 mm

2、彎指長(zhǎng)度：80mm（三節(jié)總長(zhǎng)度）

3、擋板直徑：50mm

4、擋板長(zhǎng)度：100mm

5、參考標(biāo)準(zhǔn)：GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032：1997 圖2

●可訂制帶10±1N推力。

外殼防護(hù)等級(jí)試具C的技術(shù)參數(shù)：

1、探棒長(zhǎng)度：100mm

2、探棒直徑：2.5mm

3、檔球直徑：35mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長(zhǎng)度：100mm

6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6（第1位特征數(shù)字3）。

●可訂制帶3±0.3N推力。